半导体测试分类
半导体测试分类一般可以分为三大类：功能测试、可靠性测试和性能测试。功能测试主要是检查半导体设备的功能是否正常，其中包括硬件和软件测试。可靠性测试旨在检查产品的可靠性，这包括耐久性、失效分布、电气特性和元件活动时间。最后，性能测试主要是检查半导体设备的速度、数量或者容量。
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